Новости Компания Видео Акции Контакты
Программы Страны Университеты Отзывы Галерея Подать заявку

Подбор университета

New York Film Academy

Страна: США

Программы обучения: Высшее образование, Подготовка в университет, Бакалавриат, Подготовка к магистратуре, Среднее образование, Языковые программы,


- город Нью-Йорк, США

- Основана в 1992 году

Об университете

New York Film Academy была основана продюсером Джерри Шерлоком, главный подход которого заключался в обучении киноискусству через практику. Здесь преподают высококвалифицированные преподаватели — выдающиеся практики киноиндустрии США с опытом работы более 20 лет.

В New York Film Academy учатся сын Стивена Спилберга, дочери Мартина Скорсезе и Аль Пачино, дети и члены семьи Роберта Дауни-младшего, Боно из группы U2, Сьюзан Сарандон, Терри Гиллиама и других известных личностей.

Всего за несколько лет Академия стала настолько успешной, что смогла открыть свои кампусы во многих городах мира: Флоренции, Париже, Мумбаи, Сеуле, Киото, Джакарте и др.

Обучение

В легендарной New York Film Academy студенты со всего мира учатся на кинорежиссеров, киноактеров, киносценаристов, кинопродюсеров, кинооператоров, фотографов или дизайнеров видеоигр за 2 или 3 года по уникальной американской методике.

К услугам студентов — необходимое оборудование, монтажные мастерские, студии 3D-моделирования и учебные классы. Оборудование в New York Film Academy — лучшее во всем мире: вуз внедряет самые передовые технологии, которые появляются в индустрии (например, камеры Red и Epic Red, новейшие камеры Canon 5 и тд). Преподаватели уделяют внимание и классической технике, например, съемке на пленку.

Программы New York Film Academy сочетают в себе все лучшее из различных учебных программ, посвященных киноискусству. Академия максимально использует опыт собственных разработок и мировые достижения. 

New York Film Academy
© 2016 «INTERSCHOOL».
Запрещено копировать и использовать в какой-либо форме материалы сайта без согласия собственника.
Поделиться ссылкой:
Статистика сайта:
Яндекс.Метрика